探针式轮廓仪Dektak XTL
探针式轮廓仪是一种用于化学,材料科学,电子与通信技术,化学工程领域的分析仪器.分析样品表面.....
台阶仪-表面轮廓仪
德国布鲁克DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复.....
三维光学轮廓仪ContourX-200
表面轮廓仪用于加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析。.....
光学轮廓仪ContourGT-X
布鲁克光学轮廓仪特性：业界标杆，大视场下高的垂直分辨率；从0.5x到200x不同放大倍率实.....
反射膜厚仪
反射膜厚仪是一种非接触式、快速的光学薄膜厚度测量技术。
反射膜厚仪
MProbe Vis薄膜测厚仪对大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
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